Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki - Centralny System Uwierzytelniania
Strona główna

Skaningowa mikroskopia tunelowa oraz mikroskopia sił atomowych w badaniach powierzchni o charakterze biologicznym

Informacje ogólne

Kod przedmiotu: 1200-2RMON2L
Kod Erasmus / ISCED: 13.3 Kod klasyfikacyjny przedmiotu składa się z trzech do pięciu cyfr, przy czym trzy pierwsze oznaczają klasyfikację dziedziny wg. Listy kodów dziedzin obowiązującej w programie Socrates/Erasmus, czwarta (dotąd na ogół 0) – ewentualne uszczegółowienie informacji o dyscyplinie, piąta – stopień zaawansowania przedmiotu ustalony na podstawie roku studiów, dla którego przedmiot jest przeznaczony. / (0531) Chemia Kod ISCED - Międzynarodowa Standardowa Klasyfikacja Kształcenia (International Standard Classification of Education) została opracowana przez UNESCO.
Nazwa przedmiotu: Skaningowa mikroskopia tunelowa oraz mikroskopia sił atomowych w badaniach powierzchni o charakterze biologicznym
Jednostka: Wydział Chemii
Grupy: Wykłady monograficzne w semestrze letnim 2M Radiogenomika (S2-PRK-RAD)
Wykłady monograficzne w semestrze zimowym 3M Radiogenomika (S2-PRK-RAD)
Punkty ECTS i inne: 1.50 Podstawowe informacje o zasadach przyporządkowania punktów ECTS:
  • roczny wymiar godzinowy nakładu pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się dla danego etapu studiów wynosi 1500-1800 h, co odpowiada 60 ECTS;
  • tygodniowy wymiar godzinowy nakładu pracy studenta wynosi 45 h;
  • 1 punkt ECTS odpowiada 25-30 godzinom pracy studenta potrzebnej do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się;
  • tygodniowy nakład pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się pozwala uzyskać 1,5 ECTS;
  • nakład pracy potrzebny do zaliczenia przedmiotu, któremu przypisano 3 ECTS, stanowi 10% semestralnego obciążenia studenta.
Język prowadzenia: polski
Rodzaj przedmiotu:

fakultatywne
Tryb prowadzenia:

w sali
Skrócony opis:

W trakcie zajęć omawiane są fizyczne podstawy technik mikroskopowych ze skanującą sondą tj. skaningowej mikroskopii tunelowej oraz mikroskopii sił atomowych. Przedstawiane są różne tryby obrazowania za pomocą wymienionych technik, jak również możliwości pomiarowe wykraczające poza zwykłe obrazowanie. Szczególny nacisk położony jest na mikroskopowe badania powierzchni o charakterze biologicznym i/lub biomimetycznym.
Pełny opis:

Wykład podzielony jest na dwie części. Pierwsza obejmuje podstawy teoretyczne techniki skaningowej mikroskopii tunelowej (STM) oraz jej odmiany elektrochemicznej (EC-STM), wykorzystanie technik STM oraz EC-STM w badaniach strukturalnych warstw o charakterze biomimetycznym w tym membran lipidowych, zastosowanie STM do obrazowania z rozpoznaniem molekularnym, identyfikacja charakterystycznych grup funkcyjnych oraz centrów metalicznych w metaloproteinach, badania transportu elektronowego w układach biologicznych z wykorzystaniem technik opartych na STM. Druga część wykładu obejmuje podstawy teoretyczne techniki mikroskopii sił atomowych (AFM), omówienie niektórych odmian techniki AFM: tryb kontaktowy, tryb bezkontaktowy, tryb przewodzący (C-AFM), mikroskopia sił lateralnych (LFM), mikroskopia sił elektrostatycznych (EFM), obrazowanie i badanie właściwości powierzchni o charakterze biologicznym, warstw biomimetycznych oraz żywych komórek technikami opartymi na AFM, pomiar sił adhezji biomolekuł na modelowych błonach oraz określanie rozkładu ładunku elektrostatycznego w układach o charakterze biologicznym, modyfikacja sond AFM za pomocą biocząsteczek do celów rozpoznania molekularnego oraz identyfikacji specyficznych obszarów membran biologicznych.
Literatura:

1. "Scanning Probe Microscopies Beyond Imaging Manipulation of Molecules and Nanostructures" ed. Paolo Samori, Wiley VCH, Weinheim 2006.

2. "STM / AFM: Mikroskopy ze skanującą sondą - elementy teorii i praktyki ", R. Howland, L. Benatar. Odnośnik bezpośrednio do tekstu:

http://www.inmat.pw.edu.pl/zaklady/zpim/Mikroskopy_STM_AFM.pdf

3. P.W. Atkins "Chemia Fizyczna" PWN, Warszawa 2007.

4. "Review of Progress in Atomic Force Microscopy" S. Maghsoudy-Louyeh, M. Kropf, B. R. Tittmann, 2018, DOI: 10.2174/1874440001812010086.
Efekty uczenia się:

Znajomość fizycznych podstaw technik STM oraz AFM i mechanizmów powstawania obrazu. Umiejętność doboru odpowiedniej techniki do charakteru badanej powierzchni. Wiedza na temat zakresu wykorzystania technik STM oraz AFM poza konwencjonalnym obrazowaniem powierzchni.
Metody i kryteria oceniania:

Zaliczenie na ocenę w formie testu. Warunkiem zaliczenia jest uzyskanie minimum 51% maksymalnej liczby punktów w teście. Dopuszczalna liczba nieobecności podlegających usprawiedliwieniu wynosi 2.

Zajęcia w cyklu "Semestr letni 2023/24" (zakończony)

Okres: 2024-02-19 - 2024-06-16
Wybrany podział planu:
Przejdź do planu
Typ zajęć:
Wykład monograficzny, 15 godzin więcej informacji
Koordynatorzy: Sławomir Sęk
Prowadzący grup: Sławomir Sęk
Lista studentów: (nie masz dostępu)
Zaliczenie: Zaliczenie na ocenę
Opisy przedmiotów w USOS i USOSweb są chronione prawem autorskim.
Właścicielem praw autorskich jest Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki.
ul. Pasteura 5, 02-093 Warszawa tel: +48 22 5532 000 https://www.fuw.edu.pl/ kontakt deklaracja dostępności mapa serwisu USOSweb 7.1.0.0-5 (2024-09-13)